快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試
在半導體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)過程中，快速溫度變化濕熱試驗箱可用于模擬芯片在不同工作環(huán)境下的溫度和濕度變化。芯片在實際使用中會經(jīng)歷從低溫到高溫的快速切換，如在電子設備的啟動和運行過程中

產(chǎn)品型號：TEC-800PF
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-10-20
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詳情介紹

品牌	廣皓天	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
溫度范圍	- 40℃～+150℃	溫度波動度	±0.3℃（-20℃～+100℃）、±0.5℃（+100.1℃～+150℃）
溫度偏差	±1.5℃（+100.1℃～+150℃）	升溫時間	平均非線性5℃
降溫時間	平均非線性5℃	濕度范圍	20%～98% R.H
濕度偏差	≤±3%RH	溫度均勻度	±2℃
溫度控制精度	±0.5℃	工作室尺寸	1000×800×1000mm
容積	800L	外形尺寸	1250×1750×2180mm
電源電壓	AC380V±10%，50Hz	制冷劑	R404a/R23

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試

電子元器件老化測試

對于電阻、電容、電感等電子元器件，濕熱環(huán)境和溫度變化會影響其電氣性能和壽命。利用試驗箱進行老化測試，可以加速元器件的老化過程，提前篩選出存在質(zhì)量缺陷的產(chǎn)品。例如，在高溫高濕環(huán)境下，電容的絕緣性能可能會下降，通過設置不同的溫度和濕度循環(huán)，能夠檢測電容在這種環(huán)境下的耐久性，確保其在實際電子產(chǎn)品中的長期穩(wěn)定運行。

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試

（一）溫度控制系統(tǒng)

高精度傳感器

采用的鉑電阻溫度傳感器，具有高的測量精度和穩(wěn)定性。能夠?qū)崟r準確地監(jiān)測試驗箱內(nèi)的溫度變化，為溫度控制提供可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。其測量精度可達到 ±0.1℃，能夠滿足對溫度變化要求極為嚴苛的測試需求。

快速加熱與制冷技術(shù)

配備高效的加熱元件和制冷壓縮機。加熱元件采用不銹鋼鎧裝加熱絲，加熱功率大且熱響應速度快，能夠在短時間內(nèi)將試驗箱內(nèi)溫度升高到設定值。制冷系統(tǒng)采用復疊式制冷技術(shù)，通過不同制冷劑的組合，實現(xiàn)了寬范圍的低溫制冷效果，并且降溫速率快，例如從常溫降至 -60℃的時間可控制在較短時間內(nèi)，滿足快速變溫的要求。

智能溫度控制算法

運用的 PID（比例 - 積分 - 微分）控制算法，根據(jù)傳感器反饋的溫度數(shù)據(jù)，實時調(diào)整加熱或制冷功率。該算法能夠快速響應溫度偏差，控制溫度變化曲線，使試驗箱內(nèi)的溫度按照預設的速率均勻地上升或下降，有效避免了溫度過沖或波動過大的問題，確保了溫度控制的穩(wěn)定性和準確性。

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試

優(yōu)質(zhì)絕熱材料

試驗箱箱體采用多層絕熱結(jié)構(gòu)，內(nèi)層為不銹鋼板，具有良好的耐腐蝕性能，能夠適應濕熱環(huán)境的長期作用。中間層填充高密度聚氨酯泡沫絕熱材料，其導熱系數(shù)低，有效地減少了試驗箱內(nèi)外的熱量傳遞，降低了能耗，同時保證了箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定性，減少了外界環(huán)境對測試結(jié)果的干擾。