TSD-36F-2P 冷熱沖擊試驗箱兩箱式是一款高性能測試設(shè)備。它具備 36L 的樣品容積，可滿足多種產(chǎn)品測試需求。溫度范圍廣，高溫可達(dá) 200℃，低溫可至特定低溫區(qū)間。溫度波動度小、均勻度高，能快速實現(xiàn)高低溫轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換時間≤10秒。該設(shè)備適用于電子、電器等產(chǎn)品的可靠性測試，可模擬產(chǎn)品在惡劣溫度變化環(huán)境下的性能表現(xiàn)，為產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保障，助力企業(yè)提升產(chǎn)品競爭力。冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試

產(chǎn)品型號：TSD-36F-2P
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-10-18
訪問量：484

詳情介紹

品牌	廣皓天	價格區(qū)間	5萬-10萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣
高溫區(qū)	+60℃～200℃	低溫區(qū)	-10℃～-40℃
溫度波動度	±0.5℃	溫度均勻度	±3℃
溫度恢復(fù)時間	3～5 分鐘	高溫槽升溫速度	平均約 5℃/min
低溫槽降溫速度	平均約 1.5℃/min	高低溫暴露時間	30min 以上
高低溫轉(zhuǎn)換時間	≤10秒	樣品容積	36L
工作室尺寸	350×300×350mm（寬 × 高 × 深）	外形尺寸	約 1630×1650×1820mm
電源	380V/50Hz	重量	約 500kg

冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試

產(chǎn)品詳情：

結(jié)構(gòu)設(shè)計：兩箱式冷熱沖擊試驗箱通常由兩個獨立的箱體組成，分別為高溫箱和低溫箱，中間通過轉(zhuǎn)移裝置（如提籃等）連接。箱體一般采用優(yōu)質(zhì)的不銹鋼或冷軋鋼板材質(zhì)，具有良好的保溫性能和耐腐蝕性能。外箱美觀大方，內(nèi)箱空間設(shè)計合理，便于放置測試樣品。

溫度范圍：高溫區(qū)溫度通常可達(dá)到 +60℃至 +200℃；低溫區(qū)溫度根據(jù)不同型號和需求，常見的有 -10℃至 -40℃、-10℃至 -55℃、-10℃至 -65℃、-10℃至 -70℃等多種選擇。

溫度波動度：一般能控制在 ±0.5℃以內(nèi)，確保溫度的精確性和穩(wěn)定性。

溫度均勻度：通常在 ±3℃以內(nèi)，保證箱內(nèi)不同位置的溫度差異在可接受范圍內(nèi) 。

轉(zhuǎn)換時間：高低溫之間的轉(zhuǎn)換時間較短，一般≤15 秒，能夠快速實現(xiàn)溫度的切換。

恢復(fù)時間：溫度恢復(fù)時間較快，通?！? 分鐘，使得試驗?zāi)軌蚋咝нM(jìn)行。

冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試

用途：

材料測試：可用于測試金屬、塑料、橡膠、電子等材料在瞬間很高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，為材料的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供依據(jù) 。

產(chǎn)品可靠性評估：廣泛應(yīng)用于電子元氣件、電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天設(shè)備等領(lǐng)域，對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗和篩選試驗，以提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量。

科研實驗：在科研領(lǐng)域，可用于研究材料的熱性能、溫度變化對產(chǎn)品性能的影響等，為科學(xué)研究提供數(shù)據(jù)支持。

制冷系統(tǒng)：

制冷原理：制冷系統(tǒng)主要由蒸發(fā)器、壓縮機、冷凝器和膨脹閥等部件組成。制冷劑在蒸發(fā)器中蒸發(fā)吸收熱量，使試驗箱內(nèi)的溫度降低；蒸發(fā)后的制冷劑被壓縮機壓縮成高溫高壓氣體，然后進(jìn)入冷凝器釋放熱量，變?yōu)楦邷馗邏阂后w；高溫高壓液體經(jīng)過膨脹閥降壓后，再次回到蒸發(fā)器，完成一個制冷循環(huán) 。

制冷方式：常采用復(fù)疊式（二元式）制冷系統(tǒng)，這種制冷方式能夠滿足冷熱沖擊試驗箱對低溫的要求，并且具有制冷效率高、制冷溫度低等優(yōu)點。常用的制冷劑有環(huán)保型冷媒，如 R-23 等。

制冷部件：壓縮機通常采用進(jìn)口品牌的全封閉式或半封閉式壓縮機，如法國泰康、德國比澤爾等，具有性能穩(wěn)定、制冷效果好、噪音低等特點；冷凝器和蒸發(fā)器采用高效能的熱交換器，能夠提高制冷系統(tǒng)的換熱效率。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

國家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 A：低溫》、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 B：高溫》、GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗第 2 部分：試驗方法試驗 N：溫度變化》。

J用標(biāo)準(zhǔn)：GJB 150.5-1986《J用設(shè)備環(huán)境試驗方法溫度沖擊試驗》、GJB 360.7-1987《電子及電氣元件試驗方法溫度沖擊試驗》、GJB 367.2-1987《J用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》。

冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試

工作原理：

兩箱式冷熱沖擊試驗箱的工作過程主要是通過轉(zhuǎn)移裝置將測試樣品在高溫箱和低溫箱之間快速移動，實現(xiàn)冷熱沖擊的效果。首先，將測試樣品放置在其中一個箱體內(nèi)（如高溫箱），使其在高溫環(huán)境下保持一段時間，以達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)；然后，通過轉(zhuǎn)移裝置將測試樣品迅速轉(zhuǎn)移到另一個箱體（低溫箱）中，讓樣品在低溫環(huán)境下保持一段時間，完成一次冷熱沖擊循環(huán)。如此反復(fù)進(jìn)行多次循環(huán)，以模擬產(chǎn)品在實際使用過程中可能遇到的溫度變化情況。控制系統(tǒng)會根據(jù)設(shè)定的溫度范圍、變化速率等參數(shù)，自動調(diào)節(jié)制冷系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)的輸出功率，確保試驗箱內(nèi)的溫度按照預(yù)設(shè)要求進(jìn)行變化。

深入搜索